emmc存储芯片高低温老化箱的测试方法-和记娱乐手机版
文章出处 : 技术知识
文章编辑 : 环仪仪器
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发表时间 : 2024-11-01
emmc存储芯片高低温老化箱可对emmc（embeddedmulti media card，嵌入式多媒体卡）、ssd（solid state disk，固态硬盘）、ufs（univeralflash storage，通用闪存存储器）等存储芯片的兼容性能进行检测。在不同存储芯片适配终端产品的pcb（printed circuit board，印制电路板）时，可在不同的环境条件下，快速高效的筛选出兼容性能良好的存储芯片。
下面，我们结合实际情况，看看如何对emmc存储做高低温老化测试。
emmc存储高低温老化测试方法：
试验设备：环仪仪器 emmc存储芯片高低温老化箱
测试内容：高低温循环存储、高低温循环工作
工作模式示意图：
试验步骤：
高低温循环存储试验
1、6 套球泡灯在温箱内仅存储并不上电工作，开启并设置emmc存储芯片高低温老化箱工作于指定温度（-40/-20/0/25/60/85/105/125）℃循环模式；
2、6 套球泡灯在温度循环环境下持续存放 72 小时后取出，并在常温下通过 ble 配网加入无线路由器 ap，进而连接云，并在智能控灯 app 上添加设备成功；
3、1 小时内随意查询 6 套球泡灯连云状态，并调整颜色，开关灯等操作。
高低温循环工作试验
1、6 套球泡灯在温箱内上电工作，开启并设置emmc存储芯片高低温老化箱工作于指定温度（-40/-20/0/25/60/85/105）℃循环模式；
2、6 套球泡灯在温度循环环境下持续工作 168 小时，期间反复尝试 ble配网加入无线路由器 ap，进而连接云，并在智能控灯 app 上添加设备成功；
3、168 小时内随意查询 6 套球泡灯连云状态，并调整颜色，开关灯等操作。
如对以上试验有疑问，可以咨询环仪仪器相关技术人员。
文章标签 :
高低温试验箱
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