ssd在生产过程中，需要在高温、低温条件下进行可靠性测试，测试状态既包括断电状态，也包括通电下最高读取速率的工作状态，测试过程需要用到高低温ssd老化柜。

ssd高低温老化过程：

试验设备：环仪仪器 高低温ssd老化柜

试验依据：yd/t 3824-2021 面向互联网应用的固态硬盘测试规范

注意事项：由于从低温到高温转换过程中，会有大量结霜变成水珠，水珠会导致芯片管脚直接的短路，导致ssd被烧毁，因此，被测试固态硬盘必须要做加固及防水处理。

前言：在yd/t 3824-2021标准的要求，固态硬盘的高低温试验范围在-40~80℃，工业级温度标准为-40℃~ 85℃。

以下试验温度要求则为-50~90℃，试验要求比标准要求高。不同厂商的测试要求可以根据自身产品定位来变化。

测试流程：

1、在断电的状态下，先将温度下降到-50℃，保持4个小时；

请勿在通电的状态下进行低温测试，非常重要，因为通电状态下，芯片本身就会产生 20℃以上温度，所以，在通电状态下，通常比较容易通过低温测试，必须先将其“冻透”，再次通电进行测试。

2、开机，对ssd进行读写性能测试，对比性能与常温相比是否正常。

3、进行老化测试，观察是否有数据对比错误。

4、进行掉电测试，具体方法参考：

5、升温到 90℃，保持4个小时，与低温测试相反，升温过程不断电，保持芯片内部的温度一直处于高温状态，4个小时后，执行2、3、4测试步骤。

6、高温和低温测试分别重复10次。

如果测试过程出现任何一次不能正常工作的状态，则视为测试失败。

市场上，通常有人使用商业级温度产品进行筛选后做工业级使用，这种方法具备一定的潜在风险，筛选的产品在几次温度循环中出现故障概率极大，另外，严格的宽温通常无法通过，还有可能本次测试通过，下次测试无法通过。