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东莞市环仪仪器科技有限公司
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常见问题
可编程高低温 ssd bit老化实验箱测试要求
固态硬盘(ssd)在生产过程中,需要在高低温环境下进行bit老化测试,下面,我们根据实际要求,看看测试是怎么做的。
测试硬件:环仪仪器 可编程高低温 ssd bit老化实验箱
测试软件:burnintest、h2test
测试环境:高温75℃/低温-10℃
测试样品:固态硬盘
测试流程设计:
测试流程分为两个阶段,高温测试和低温测试。具体步骤如下:
高温测试(75℃): 运行burnintest软件进行高温测试,持续12小时。
切换至低温测试(-10℃): 在测试箱温度切换至-10℃,运行burnintest软件进行低温测试,同样持续12小时。
测试周期:一个完整的测试周期包括高温和低温测试各一次,总时长为72小时,共循环三个周期。
测试后校验:
测试结束后,使用h2test软件进行校验,检查固态硬盘是否出现坏块。这一步骤在常温环境下进行,确保在不同温度条件下测试后的硬盘状态。
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可编程高低温 ssd bit老化实验箱测试要求-和记娱乐手机版
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