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文章出处：原创编辑：admin 发表时间：2023-11-15

固态硬盘（ssd）在生产过程中，需要进行一系列的试验，可程序硬盘高低温度bit老化箱在ssd的应用中，是属于温湿度环境测试的一个重要试验项目，下面是该试验的过程。

测试环境：高温80℃／低温-40℃

测试样品：固态硬盘

测试依据：yd/t 3824-2021 面向互联网应用的固态硬盘测试规范

测试流程：

1.bit老化箱设置为128kb顺序写，队列深度32，运行bit老化箱。

2.以不大于20℃/h的温降速度从常温到-40度。

3.被测硬盘-40℃环境中，静置72小时。

4.以不大于20℃/h 的温升速度从-40℃到 80℃。

5.被测硬盘80℃环境中，静置72小时。

6.以不大于20℃/h的温升速度，使环境温度从80℃降到25℃，静置24小时。

7.bit老化箱设置为128kb顺序写，队列深度32，运行bit老化箱。

8.比较步骤1、7的测试结果。

高低温测试中，筛选不合格的盘片，其中包括了焊接问题、颗粒问题、dram以及主控问题，通过bit测试，能保证盘片在使用过程中稳定可靠。

可程序硬盘高低温度bit老化箱的测试应用-和记娱乐手机版

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