《gb/t 12085.22-2022 光学和光子学 环境试验方法 第22部分: 低温、高温或温度变化与碰撞或随机振动综合试验》是中国国家标准，属于光学和光子学领域。该标准规定了在实验室条件下进行光学和光子学设备的综合环境试验方法，涵盖了低温、高温、温度变化、碰撞和随机振动等多个环境因素的综合试验。

一、范围：
本文件描述了光学和光子学低温，高温或温度变化与碰撞或随机振动综合试验的环境试验方法。
本文件适用于光学和光子学仪器以及来自其他领域的组件(如机械、化学和电子设备)的低温、高温或温度变化与碰撞或随机振动综合试验。

二、试验项目：
温度、振动综合试验。

三、试验设备：
综合试验箱。

四、设备厂商：
环仪仪器

五、试验程序（部分）：

若进行温度变化测试,则所需要的暴露时间从温度变化开始时启动。试样和试验箱(室)温度应相同。

光学和光子学仪器试验应采用半正弦脉冲。试样应沿每个轴向每一方向经受1 000次冲击，或确定具体的冲击次数。

随机振动用数字控制的方式进行。加速度功率谱密度应采用按gb/t 2423.56的振动控制系统进行控制。

其他参数如低温或高温﹑温度变化，随机振动类型、温度暴露时间，振动暴露时间，冲击次数.冲击重复频率、冲击或振动轴、运行状态等，应在相关规范中规定。

综合环境试验是为了模拟光学和光子学设备在实际使用中可能遇到的复杂环境条件，包括温度变化、碰撞和振动等。这些试验有助于评估设备在这些条件下的性能和可靠性，以确保其在实际应用中能够正常工作。这对于需要在恶劣环境条件下使用的光学和光子学设备非常重要，如卫星通信设备、激光测量仪器、航天器载荷等。通过进行综合环境试验，可以确定设备的耐受性，以减少在实际使用中的故障风险。