gb/t 35086-2018 是中国国家标准，标题为《mems电场传感器通用技术条件》（micro-electromechanical systems (mems) - general technical specifications for mems electric field sensors）。

该标准规定了mems电场传感器的通用技术要求，旨在指导和规范这类传感器的设计、制造、测试和使用，以确保其性能、可靠性和适用性。

一、范围：
本标准规定了mems电场传感器(以下简称“传感器”)的原材料、结构组成、技术要求、试验项目和方法、检验规则、包装、存储和运输。

本标准适用于mems电场传感器的研制、生产和采购。其他类型的电场传感器可参照使用。

二、试验项目：
高低温试验、温度冲击试验、湿热试验、冲击试验、振动试验等。

三、试验设备：
恒温恒湿试验箱、温度冲击试验箱、冲击试验台、振动试验台等。

四、设备厂商：
环仪仪器

五、试验程序（部分）：

1.高温贮存
试验
按gb/t 2423.2-2008中 5.2规定的试验方法和如下规定进行试验:
a）温度:贮存温度的上限温度±2℃;

b)保温时间:48 h。
试验后，在试验的标准大气条件下恢复2 h，然后检查传感器外观，检测零点输出。

2.低温贮存
试验
按gb/t 2423.1-2008中 5.2规定的试验方法和如下规定进行试验:
a)温度:贮存温度的下限温度±2℃;

b)保温时间:24 h。
试验后，在试验的标准大气条件下恢复2 h，然后检查传感器外观，检测零点输出。

3.温度冲击
试验
按gb/t 2423.22-2012规定的试验方法和如下规定进行试验:
a)试验程序:按照gb/t 2423.22-012的第7章;

b)温度:高温为贮存温度的上限温度±2℃，低温为贮存温度的下限温度±2℃;

c)保温时间:应确保传感器达到温度稳定(保温时间通常可参考传感器的热容量由用户和供应商
协商确定);

d)转换时间:不大于3 min;
e)冲击次数:3次。

试验后﹐在试验的标准大气条件下恢复2 h，然后检查传感器外观，检测零点输出。

通过遵循 gb/t 35086-2018 标准，mems电场传感器的制造商和用户可以更好地了解和应用这类传感器，从而确保其在电场测量等应用中的性能和可靠性得到保障。