《gb/t 4937.12-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动》是中国国家标准化委员会发布的标准，用于评估半导体器件在振动环境下的可靠性和性能稳定性。该标准规定了扫频振动试验的方法和要求。

一、范围：
gb/t4937的本部分的目的是测定在规定频率范围内，振动对器件的影响。本试验是破坏性试验，通常用于有空腔的器件。
本试验与gb/t 2423.10-2008基本一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。

二、试验项目：
振动试验。

三、试验设备：
振动试验台。

四、设备厂商：
环仪仪器

五、试验程序（部分）：

样品应刚性地安装在振动台上，引出端和电缆也应安全固定，以避免引入额外的引线共振。应使样品做简谐振动，其振幅两倍幅值为1.5 mm(峰-峰值)，或其峰值加速度为200 m/s² ，取较小者。振动频率在20 hz~2 000 hz范围内近似对数变化。从20 hz~2 000 hz再回到20 hz的整个频率范围的振动时间不应少于4 min。在x、y和z3个方向上各进行4次这样的循环(共12次)。

在扫频振动试验中，半导体器件将在特定的振动频率和振动幅度下进行振动，以模拟实际应用环境中的振动情况。通过该试验，可以评估器件在振动环境下的机械强度、焊接可靠性、封装可靠性等性能指标。

《gb/t 4937.12-2018》标准规定了试验装置、试验样品的选择和准备、试验条件、试验过程和评定方法等方面的要求。通过该标准进行的扫频振动试验可以帮助制造商和使用者了解半导体器件在振动环境下的可靠性表现，指导产品设计和改进工艺。